全球第一的光-電/電-光 轉換效率測量方案
最接近太陽光的先進模擬光源方案
全球最先進的影像晶片測試解決方案
提供最合適的光機電整合測試方案
光焱科技以量子效率與光源模擬核心專利技術發展出多項先進半導體光電元件的檢測技術,包含5G光纖通訊元件、屏下指紋辨識感測器、LiDAR光接收器、3D結構光與ToF等VCEL元件等等。
光焱科技以光為核心,具備多種光學校準標準源,可依ISO/IEC 17025: 2017 國際規範,溯源到國際SI七大基本單位量
包含: 光度標準燈(NIST)、標準光電偵測器(A/W; PTB, NIST與NIM)、標準LED(NIST)、照度計(lux; NIST))、輻照度計(mW/cm2; NIST)。
我們擁有ISO/IEC 17025:2017 認證的光學校正與測試實驗室,不論在技術與質量管理體系都具備國際認證水平。
我們專注量子效率測試技術,相關解決方案幫助可互發表超過1,000篇SCI高引用論文。測量動態範圍可以高達10億倍(8 個數量級),目前為全球最高水平。
我們的氙燈與LED多年光源經驗,搭配自開發專利的光調控技術,造就了我們在人造模擬光源可以在各種場域上的完美應用。
我們的AI (Advanced Integration)技術涵蓋了先進晶圓級光學測試到封裝相機模組,提供完整的非破壞性光電特性測試,幫助客戶完成最尖端的開發專案。
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